一、江蘇35*175塑料電纜拖鏈平面度誤差測量的要求

   機床工作臺平面度誤差的檢測方法沿用“兩點法”，即利用平行平尺、千分表、等高墊塊、框式水平儀等，將沿工作臺面某些直線部位進行的測量，理解為任一截面上的zui大直線度誤差。而它與形位公差國標中平面度定義規(guī)定不符，目前JB2670—82《金屬切削機床檢驗通則》中指出，對平面度誤差的檢查測量均為按包容實際表面且距離為zui小的兩平行平面間的距離。由此定義可以看出，作為評定基準的包容平面，其位置也需要根據(jù)zui小條件原則來確定。所以必須首先全面掌握被測表面的誤差情況，然后才能按一定準則確定評定基準。這樣就決定了測量必須要分兩個步驟，即先測出實際表面上若干點相對于任意一個理想平面（測量基準）的高度，然后通過基準轉(zhuǎn)換等方法，才能求出符合定義的誤差值。

二、用指示器測量平面度誤差時應如何操作和評定?

   用指示器測量平面度誤差，將被測江蘇35*175塑料電纜拖鏈置于平板上，平板的工作面為測量基準。測量時，通常先調(diào)整被測實際表面上相距zui遠的三點與平板等高（調(diào)平），因此由指示器測得的zui大讀數(shù)與zui小讀數(shù)的代數(shù)差就是按三點法評定的平面度誤差值。也可以調(diào)整被測實際表面上一條對角線的兩端點與平板等高，再調(diào)整另一條對角線的兩端點與平板等高，于是由指示器測得的zui大讀數(shù)與zui小讀數(shù)的代數(shù)差就是按對角線法評定的誤差值。但這樣調(diào)平比較困難，可按一定的布線測量被測表面，同時記錄讀數(shù)。一般可用zui大與zui小讀數(shù)的代數(shù)差作為誤差值。必要時，可按zui小條件把各測點的讀數(shù)進行數(shù)據(jù)的處理，求解誤差值。

三、用水平儀測量平面度誤差時應注意什么問題？

    用水平儀測量平面度誤差是以自然水平面作為測量基準，測量時應先把被預測實際表面調(diào)整到大致水平。然后把水平儀安放在橋板上，再把橋板置于被測表面上，按一定的布線逐點測量被測表面，同時記錄各測點的讀數(shù)（格數(shù)），再將格數(shù)換算成線值。根據(jù)測得的讀數(shù)（線值），通過數(shù)據(jù)處理，即可獲得平面度誤差。
此方法可用來測量大平面的平面度。

四、用自準直儀測量平面度誤差時應注意什么問題?

   用誤差時，是將自準直儀置于被測零件之外的基座上，將反射鏡安放在橋板上，并將橋板置于被測表面上。測量時，應先把自準直儀與被測表面調(diào)整到大致平行。然后用測量直線度誤差的方法，按米字布線，先測出對角線上各測點的讀數(shù)，再測出另一條對角線上各測點和其余截面上各測點的讀數(shù)，并將這些讀數(shù)換算成線值。根據(jù)測得的讀數(shù)（線值），利用兩條對角線的交點來確定符合對角線法則的理想平面，再按此理想平面求解平面度誤差值。必要時再進一步按zui小條件求解誤差值。
此方法可用不測量大平面的平面度。

五、用平晶測量平面度誤差時應如何評定？

    應用光學平晶測量小平面，測量時將平晶貼于被測表面上，若被測表面內(nèi)凹或外凸，就會出現(xiàn)環(huán)形干涉帶，根據(jù)環(huán)形干涉帶數(shù)與光波的半波長的乘積來表示平面度誤差。如果干涉條紋不封閉，可使光學平晶與被測表面間略微傾斜一個角度，使兩者之間形成一空氣楔。這種按干涉帶的彎曲度與相鄰兩干涉帶之間的比值，再乘以半波長即得誤差值。不過，按此法評定的誤差實際上是以直線度誤差代替了平面度誤差。過去用平晶只能測小平面。近年來有了平晶干涉儀，應用這種儀器也可以利用平晶干涉法來測量較大的平面。